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納米粒度分析儀其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎之上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光電倍增管和我公司自主研制的高速數(shù)字相關器作為核心器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數(shù)（即擴散系數(shù)），根據(jù)Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的優(yōu)點，是納米顆粒粒度測試的*產(chǎn)品。
粒度分析儀采用更先進的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
納米激光粒度儀性能特點：
先進的測試原理 該儀器采用動態(tài)光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測器采用HAMAMATSU光電倍增管（PMT），其具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關器，它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關函數(shù)運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0.2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩(wěn)定性。
納米激光粒度儀技術參數(shù)：
| 規(guī)格型號 | Winner802 | |
| 執(zhí)行標準 | GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 | |
| 測試范圍 | 1 ~ 10000nm（與樣品有關） | |
| 準確度 | < 1%（標準樣品平均粒徑） | |
| 重復性 | < 1%（標準樣品平均粒徑） | |
| 測試濃度 | 0.1mg/ml ~ 100mg/ml（與樣品有關） | |
| 激光 | 半導體激光器，λ= 532nm， P=30mW | |
| 探測器 | 光電倍增管（PMT） | |
| 散射角 | 90o | |
| 樣品池 | 10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL | |
| 測試溫度 | 5 ~ 40 ℃ | |
| 溫控精度 | ±0.2 ℃ | |
| 測試速度 | < 5Min | |
| 體積 | 480mm×270mm×170mm | |
| 重量 | 12Kg | |
| 數(shù)字 相關器 | 規(guī)格型號 | CR256 |
| 自相關通道 | 256 | |
| 基線通道 | 4 | |
| 單位延遲時間 | 100ns ~ 10ms | |